有史以来最薄的 X 射线探测器打破世界纪录

澳大利亚的科学家们使用单硫化锡 (SnS) 纳米片制造了有史以来最薄的 X 射线探测器，有可能实现细胞生物学的实时成像。

X 射线探测器是一种工具，可以通过视觉或电子方式识别辐射传输的能量，如医学成像或盖革计数器。

SnS 作为用于光伏、场效应晶体管和催化的材料已经显示出巨大的前景。

现在，成员卓越的激子学，ARC中心设在莫纳什大学和皇家墨尔本理工大学，表明SnS的纳米片也用作软X射线探测器的最佳候选。

他们的研究发表在Advanced Functional Materials杂志上，表明 SnS 纳米片具有高光子吸收系数，使其可用于制造具有高灵敏度和快速响应时间的超薄软 X 射线探测器。

发现这些材料比另一种新兴的候选材料(金属卤化物钙钛矿)更敏感，拥有比现有探测器更快的响应时间，并且可以在软 X 射线区域对灵敏度进行调整。

该团队制造的 SnS X 射线探测器的厚度不到 10 纳米。从正确的角度来看，一张纸大约有 100,000 纳米厚，而你的指甲每秒增长大约 1 纳米。以前，最薄的 X 射线探测器的厚度在 20 到 50 纳米之间。

仍有大量工作需要探索 SnS X 射线探测器的全部潜力，但该论文的资深作者、莫纳什材料科学与工程系的Jacek Jasieniak 教授认为，这可能有朝一日实现对 SnS X 射线探测器的实时成像。细胞过程。

“SnS 纳米片在几毫秒内反应非常快，”他说。

“您几乎可以立即扫描某些内容并获得图像。感测时间决定了时间分辨率。原则上，由于高灵敏度和高时间分辨率，您可以实时看到事物。

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