加州大学洛杉矶分校和 Cedars-Sinai 的研究人员开发了一种新方法来检测怀孕期间可能发生的可能危及生命的疾病。
这种情况，胎盘植入谱系障碍，当胎盘长得太深进入子宫壁并且在分娩后未能与子宫分离时，就会发生这种情况。它可能导致怀孕和分娩期间大量失血，需要输血和重症监护，并且可能导致严重的疾病和感染，甚至对母亲来说可能是致命的。这种情况发生在不到 0.5% 的怀孕中。
目前，胎盘植入谱系障碍是通过超声结合对母亲怀孕史的评估来诊断的。例如，先前的剖腹产和前置胎盘病史(胎盘覆盖产道的情况)可能表明风险增加。但仅凭这些因素通常不足以可靠地检测除最严重的病例以外的病例。
新的血液测试最早可以在怀孕的前三个月进行，这样可以尽早转诊给专门从事高危妊娠的医生。在对 100 多名女性进行的测试中，血液测试在确认胎盘植入方面的准确率为 79%，在排除阴性结果方面的准确率为 93%。
加州大学洛杉矶分校大卫格芬医学院妇产科助理教授 Yalda Afshar 博士说：“及早准确地发现这种高风险的产科问题可以极大地改善母亲和婴儿的结果。”该研究的第一作者。“由于目前的胎盘植入筛查方法不可靠，我们看到迫切需要创建一种易于实施的筛查，无论患者可用的资源如何，都可以在怀孕早期在所有医疗机构中进行筛查。”
一篇详细介绍新方法的论文今天发表在Nature Communications 上。
这种新方法使用了一种名为 NanoVelcro Chip 的技术，该技术由加州大学洛杉矶分校分子和医学药理学教授 Yazhen Zhu 博士和 Hsian-Rong Tseng 在过去 15 年中开发。该芯片最初是为了检测癌症患者的肿瘤细胞而设计的，它是一种邮票大小的设备，其纳米线比人的头发细 1,000 倍，并涂有可以识别特定细胞的抗体。
在这项新研究中，研究人员调整了芯片，使其能够检测母亲血液中与胎盘植入谱系障碍相关的胎盘细胞。这些称为滋养层的细胞出现在怀孕的头几天。当使用芯片检测血液样本时，滋养层细胞会粘附在芯片上，可以在显微镜下检测到。血液中异常高的滋养细胞计数或滋养细胞簇表明胎盘植入障碍的风险升高。
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